تخفیف‌ها و قیمت جشنواره‌ها در قیمت فروش در نظر گرفته نمی‌شود
توجه : برای فیلتر کردن نمایش ها در نمودار بر روی عنوان هریک کلیک کنید .

روش های شناسایی و مشخصه یابی مواد (نانوساختارها، فلزات و پلیمرها) ویرایش دوم

برند: نشر کیان شناسه محصول: BK-1268 دسته: , ,

کتاب روش های شناسایی و مشخصه یابی مواد (نانوساختارها، فلزات و پلیمرها) ویرایش دوم
با نگاهی ویژه بر مواد پیشرفته و نانوساختار، مهم‌ ترین و متداول‌ ترین ابزارها و تکنیک‌ های روز دنیا ارایه و شرح داده است.

  • ناشر: نشر دانشگاهی کیان
  • مولفان: عبدالرضا سیم چی – مسعود وصالی ناصح – خدیجه خدرلو
  • تعداد صفحه: 344
  • قطع کتاب: وزیری
  • جلد: شوميز

مخاطبان: دانشجويان و فارغ‌التحصيلان رشته های مهندسی شیمی

350,000 ریال

مقایسه

مقدمه‌ای از کتاب روش های شناسایی و مشخصه یابی مواد (نانوساختارها، فلزات و پلیمرها) ویرایش دوم

روش های شناسایی و مشخصه یابی مواد (نانوساختارها، فلزات و پلیمرها) ویرایش دوم نشر کیان
روش های شناسایی و مشخصه یابی مواد (نانوساختارها، فلزات و پلیمرها) ویرایش دوم نشر کیان

از جمله الزامات توسعه فناوری در قرن بیست ویکم نیاز به کوچک سازی ابزارها تا مقیاس نانو و افزایش همزمان کارایی آن هاست. این امر نیازمند ساخت مواد جدید برای دست یابی به کارکردهای ویژه و گزینش پذیر است.

در سال های اخیر مواد نانوفاز و نانوساختار به دلیل کاربردهای فراوان در زمینه های مختلف نظیر الکترونیک، اپتیک، کاتالیست، سرامیک، ثبت مغناطیسی و نانوکامپوزیت توجه زیادی را به خود جلب کرده اند. اندازه، ساختار و برهمکنش های بین اتمی و مولکولی تعیی نکننده خواص منحصربه فرد این مواد است.

بنابراین، درک بهتر و بررسی ساختارها و مشخصه یابی آن ها اجتناب ناپذیر است. در واقع مشخصه یابی مواد نانومتری، تعیین مشخصات متنوع نانوساختارها اعم از اندازه ذرات، شکل ذرات )کروی، سوزنی، لول های، بی شکل و …(، توزیع، خواص نوری، مکانیکی، مغناطیسی، سطحی )زبری، یکنواختی و …( و شیمیایی، بافت و غیره می باشد. برای تعیین هر یک از خصوصیات ذکر شده از ابزار و تکنیک هایی استفاده می شود که اطلاعات دقیق و مفیدی از ساختار، اندازه ها و خواص به دست دهد.

لازم به ذکر است که برای ب هکارگیری پتانسیل بالای سیستم های نانومتری ناگزیر به ابداع روش های جدید و نیز توسعه روش های قبلی برای مشخصه یابی هستیم تا جایی که توسعه روش ها و ابزارهای جدید بررسی ساختارهای نانومتری به ویژه در حیطه علم مواد و کاربرد آن در علوم و فناوری نانو، به خودی خود به یک علم تبدیل شده است. هدف این کتاب معرفی متداول ترین و مهم ترین ابزارهای شناسایی قابل ب هکارگیری برای مشخصه یابی نانومواد است.

از آنجاکه فناوری نانو ماهیت بین رشته ای دارد سعی نویسندگان بر این بوده است تا از ورود به جزییات عمیق علمی پرهیز نمایند تا فهم آن برای کلیه دانشجویان در رشته های مهندسی و علوم آسان گردد. کتاب به ۱۰ فصل تقسیم شده است.

در فصل ۱ به روش های تجزیه و تحلیل میکروسکوپی با هدف تعیین اندازه ذرات و بلورها و نقشه ی سطح آن ها، نحوه ترکیب مواد، نسبت فازها و غیره پرداخته شده است. فصل ۲ به بررسی روش های آنالیز ساختار مواد و لایه های ناز کبه کمک پراش و پراکندگی می پردازد. در فصل ۳ تعیین غلظت عناصر مختلف و X موجود در نمونه و ضخامت و ترکیب لایه های نازک به کمک طیف سنجی فلروسانس پرتوی فوتو الکترون مورد توجه قرار گرفته است.

در فصل ۴ روش های تعیین غلظت مولفه های مختلف در نمونه، اندازه ذرات و خواص الکترونی مواد مختلف آلی و معدنی در حالت ها و اندازه های مختلف توسط طیف سنجی جذب و نشر نور مریی و ماورای بنفش ارایه شده است. در فصل ۵ انواع روش های طیف سنجی ارتعاشی به عنوان روشی برای تعیین نوع پیوندهای شیمیایی ترکیبات موجود در توده و سطح نمونه مورد بررسی قرار گرفته است.

فصل ۶ به بررسی روش طیف سنجی موزبار به عنوان ابزاری برای تعیین حالت های اکسایشی، میدان های مغناطیسی، تقارن شبکه و لرزش های شبکه ای اتم پرداخته است. فصل ۷ به معرفی تفرق یونی و نحوه ب هکارگیری آن ها برای بررسی خواص اتم می پردازد. فصل ۸ به طیف سنجی جرمی یون ثانویه به عنوان ابزاری برای سنجش مشخصات سطحی نمونه اختصاص یافته است. فصل ۹ به معرفی روش های مختلف آنالیز حرارتی و ب هکارگیری آن ها برای بررسی خواص مواد مختلف می پردازد.

در فصل ۱۰ نیز روش های مختلف سنجش اندازه، سطح و توزیع ذرات و حفرات مورد بررسی قرار گرفته است. از آنجایی که اغلب تصاویر کتاب از کتب مرجع گرفته شده اند، متاسفانه کیفیت برخی از آن ها به حد کافی مطلوب نیست. اگرچه کار گرافیکی زیادی برای ارتقای کیفیت تصاویر انجام شده است ولی همچنان برخی از آن ها هنوز به حد مطلوب نرسیده اند.

 

فهرست مطالب کتاب روش های شناسایی و مشخصه یابی مواد (نانوساختارها، فلزات و پلیمرها) ویرایش دوم

فصل اول: رو شهای تجزیه و تحلیل میکروسکوپی

  • ۱-۱ . مقدمه
  • ۲-۱ . تجزیه و تحلیل میکروسکوپی با نور و الکترون
  • ۱-۲-۱ . انواع تصویر
  • ۲-۲-۱ . بزرگ نمایی و قدرت تفکیک
  • ۳-۲-۱ . عمق میدان و عمق تمرکز
  • ۴-۲-۱ . نقص های سیستم های اپتیکی
  • ۵-۲-۱ . میکروسکوپ نوری
  • ۶-۲-۱ . الکترون و واکنش های آن با نمونه
  • ۷-۲-۱ . میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)
  • ۸-۲-۱ . میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی
  • ۹-۲-۱ . میکروسکوپ الکترونی عبوری
  • ۱۰-۲-۱ . میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی
  • ۳-۱ . روش های تصوی رسازی مکمل
  • ۱-۳-۱ . روش میکروسکوپی نوری هم کانون
  • ۲-۳-۱ . میکروسکوپ پروبی روبشی
  • ۳-۳-۱ . میکروسکوپ تونل زنی روبشی
  • ۴-۳-۱ . طیف سنجی تونل زنی روبشی
  • ۵-۳-۱ . میکروسکوپ نیروی اتمی
  • ۶-۳-۱ . میکروسکوپ نیروی مغناطیسی
  • ۷-۳-۱ . میکروسکوپی اپتیکی میدان نزدیک روبشی
  • ۸-۳-۱ . میکروسکوپی میدان ی ونی
  • ۳-۱ . اثر تابناکی کاتدی
  • مراجع

 

فصل دوم: تعیین ساختار مواد به کمک پراش و پراکندگی

  • ۱-۲ . مقدمه
  • ۲-۲ . پراش پرتوی X
  • ۱-۲-۲ . منابع تولید پرتوی X
  • ۲-۲-۲ . مبانی فیز کی
  • ۳-۲-۲ . جنبه های متمایز پراش در نانوذرات
  • ۴-۲-۲ . روش های پرا شسنجی پرتوی X در لایه های نازک
  • ۳-۲ . تفرق پرتوی X با زاوی هی کوچک
  • ۱-۳-۲ . کاربرد SAXS برای مشخصه یابی سوسپانسیون ها
  • ۲-۳-۲. روبشی و اندازه گیری میزان عبور SAXS
  • ۴-۲ . طیف سنجی جذب پرتوی X
  • ۱-۴-۲ . جذب پرتوی X گسترده در ریزساختار
  • ۲-۴-۲ . جذب پرتوی X نزدیک لبه در ریزساختار
  • ۵-۲ . پراش فوتوالکترونی پرتوی X و پراش الکترون اوژه
  • ۱-۵-۲ . مبانی فیزیکی
  • ۲-۵-۲ . تحلیل داده ها در XPD
  • ۶-۲ . پراش نوترون
  • ۷-۲ . پراش الکترون ک مانرژی
  • ۱-۷-۲ . مبانی فیزیکی
  • ۲-۷-۲ . کاربردها و محدودیت ها
  • ۸-۲ . پراکنش الکترون های پ رانرژی انعکاسی
  • ۱-۸-۲ . مبانی فیزیکی
  • مراجع

 

فصل سوم: طیف سنجی فلورسانس پرتوی

  • ۱-۳ . مقدمه
  • ۲-۳ . طیف سنجی فلورسانس پرتوی X
  • ۳-۳ . کاربردهای XRF
  • ۴-۳ . طیف سنج XRF
  • ۱-۴-۳ . طیف سنج های پاشنده طول موج
  • ۲-۴-۳ . طیف سنج های پاشنده انرژی
  • ۵-۳ . آماده سازی نمونه
  • ۶-۳ . فلورسانس پرتوی X با انعکاس کل
  • ۱-۶-۳ . کاربردها
  • ۷-۳ . فلورسانس پرتوی X قطبیده
  • ۸-۳ . نشر پرتوی X القا شده با ذره
  • ۱-۸-۳ . منبع تحریک و شناسایی پرتوی X در تحلیل PIXE
  • ۲-۸-۳ . آماد هسازی نمونه
  • ۳-۸-۳ . سیستم شناسایی
  • ۴-۸-۳ . کاربردهای PIXE
  • ۵-۸-۳ . مقایسه میان روش های XRF و PIXE
  • ۹-۳ . تحلیل کیفی و کمی
  • ۱-۹-۳ . نمونه های نازک و ضخیم
  • ۱۰-۳ . طیف سنجی فوتوالکترونی
  • ۱-۱۰-۳ . مبانی تکنیک XPS
  • ۲-۱۰-۳ . طیف سنج XPS
  • ۳-۱۰-۳ . اطلاعات طیفی و جاب هجایی شیمیایی
  • مراجع

 

فصل چهارم: طیف سنجی جذب، نشر و یا تفرق نورمریی و ماورای بنفش

  • ۱-۴ . مقدمه
  • ۲-۴ . مبانی طیف سنجی جذب مولکولی نور (مریی/ماورای بنفش)
  • ۱-۲-۴ . جذب توسط تر یکبات آلی
  • ۲-۲-۴ . جذب توسط ذرات معدنی
  • ۳-۲-۴ . جذب توسط گروه های انتقال دهنده بار
  • ۴-۲-۴ . تعیین گروه های عاملی
  • ۵-۲-۴ . تجزیه و تحلیل ک مّی به وسیله انداز هگیری های جذب
  • ۶-۲-۴ . مشخصه یابی الکترونی و اندازه ب هکمک طیف جذب
  • ۳-۴ . طیف سنجی نشر (لومینسانس) مولکولی
  • ۱-۳-۴ . طیف سنجی فوتولومینسانس
  • مراجع

 

فصل پنجم: طیف سنجی ارتعاشی

  • ۱-۵ . مقدمه
  • ۲-۵ . تفرق رامان
  • ۱-۲-۵ . مبانی روش
  • ۲-۲-۵ . کاربردهای طیف سنجی رامان
  • ۳-۲-۵ . طیف سنجی رامان ارتقا ی افته با پروب
  • ۳-۵ . طیف سنجی مادون قرمز
  • ۱-۳-۵ . آماد هسازی نمونه
  • ۲-۳-۵ . کاربردهای طیف سنجی IR
  • ۴-۵ . طیف سنجی رزونانس مغناطیسی هسته
  • ۱-۴-۵ . مشخص هیابی لایه های خودسامان
  • ۵-۵ . طیف سنجی اتلاف انرژی الکترون با قدرت تفکیک بالا
  • مراجع

 

فصل ششم: طیف سنجی موزبار

  • ۱-۶ . مقدمه
  • ۲-۶ . اثر موزبار
  • ۳-۶ . طیف سنجی موزبار
  • ۱-۳-۶ . تغییر ایزومری
  • ۲-۳-۶ . انشعاب الکتریکی چهارقطبی
  • مراجع

 

فصل هفتم: روش های تفرق یونی

  • ۱-۷ . مقدمه
  • ۲-۷ . تفرق یونی
  • مراجع

 

فصل هشتم: طیف سنجی جرمی یون ثانویه

  • ۱-۸ . مقدمه
  • ۲-۸. دینامیک SIMS
  • ۳-۸. ایستا SIMS
  • مراجع

 

فصل نهم: رو شهای تجزیه و تحلیل حرارتی و گرماسنجی

  • ۱-۹ . مقدمه
  • ۲-۹ . معرفی روش های حرارتی و گرماسنجی
  • ۳-۹ . آنالیز توزین حرارتی
  • ۱-۳-۹ . کاربردهای TGA
  • ۲-۳-۹. ترکیب TGA با دیگر روش های تجزی های
  • ۴-۹ . تجزیه گرمایی تفاضلی
  • ۵-۹ . گرماسنجی روبشی تفاضلی
  • ۱-۵-۹ . گرماسنجی روبشی تفاضلی توان جبرانی
  • ۲-۵-۹ . گرماسنجی روبشی تفاضلی شار حرارتی
  • ۳-۵-۹ . گرماسنجی روبشی تفاضلی تلفیقی
  • ۶-۹ . تجزیه و تحلیل میکروحرارتی
  • ۷-۹ . تجزیه حرارتی- مکانیکی
  • ۸-۹ . تجزیه مکانیکی- دینامیکی
  • ۹-۹ . روش های برنامه ریزی شده دمایی
  • ۱-۹-۹ . احیای برنامه ریزی شده دمایی
  • ۲-۹-۹ . اکسایش برنامه ریزی شده دمایی
  • ۳-۹-۹ . سولفیددار کردن برنامه ریزی شده دمایی
  • ۴-۹-۹ . طیف سنجی واکنش های برنامه ریزی شده دمایی
  • ۵-۹-۹ . دفع برنامه ریزی شده دمایی
  • مراجع

 

فصل دهم: روش های اندازه گیری سطح، اندازه و توزیع ذرات و حفرات

  • ۱-۱۰ . مقدمه
  • ۲-۱۰ . اندازه گیری مساحت ویژه سطح
  • ۱-۲-۱۰ . جذب هم دما
  • ۳-۱۰ . مشخصه یابی حفرات
  • ۱-۳-۱۰ . تخلخل سنجی
  • ۲-۳-۱۰ . چگالی سنجی
  • ۳-۳-۱۰ . پس ماند
  • ۴-۱۰ . اندازه گیری میزان سطح فعال با جذب شیمیایی
  • ۵-۱۰ . اندازه گیری اندازه و وزن مولکولی ذرات با تفرق نوری پویا
  • ۱-۵-۱۰ . مبانی روش
  • ۲-۵-۱۰ . تعییناندازه ی ذرات با استفاده از تابع ارتباط
  • ۳-۵-۱۰ . تعیین وزن مولکولی ذرات درون محلول
  • مراجع

 

پیوست ۱: انواع تکنیک های تحلیلی و طیف سنجی

مراجع


وزن 540 g
شابک

978-600-307-184-14

ناشر

نشر دانشگاهی کیان

مولفان

عبدالرضا سیم چی – مسعود وصالی ناصح – خدیجه خدرلو

تعداد صفحات

344

سال چاپ

1396

نوبت چاپ

اول

نوع جلد

شومیز

قطع کتاب

وزیری

فایل پیوست

CD/DVD به همراه ندارد

بر اساس 0 دیدگاه

0.0 امتیاز نهایی
0
0
0
0
0
اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “روش های شناسایی و مشخصه یابی مواد (نانوساختارها، فلزات و پلیمرها) ویرایش دوم”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.